性能評価試験や劣化(寿命計測)試験は基礎研究レベルから応用化にむけての懸け橋となっている通過点ですが、その通過点と基礎研究とのフィードバックには時間と予算が大量に消費されてしまいます。先端計測技術シーズを用いることによって、その時間と予算を短縮することができます。吸収分光による時間分解計測法はフェムト秒から秒の範囲まで幅広いダイナミックレンジで計測が可能な手法です。一方で時間分解吸収分光は吸光度の差をとるという計測方法であり、背景光の揺らぎがあるため小さな空間領域で計測することは難しい技術でした。本技術シーズはJSTさきがけ、JST創発研究を通じで最先端の時・空間同時計測により、反応計測、キャリアのふるまいを明らかにしてきましたが、本技術シーズではこれらを同時に計測することにより、短時間でその材料系の損失原因、材料設計指針を出すことができます。