GaN素子の放熱問題を解決し、素子の性能と寿命の向上及びシステムの小型化の実現を目指す
本研究開発により実現されるGaN成膜用3C-SiC-on-ダイヤモンドエンジニアリング基板は、4H-SiC基板に比べ熱抵抗が約70%低いです。このエンジニアリング基板上にGaNを成膜し、更に素子作製プロセスを適用することにより、異種材料接合技術に投資することなく放熱性が大幅に向上したGaN素子が製造されます。動作時の自己発熱が抑制されることにより、素子性能と寿命が向上します。素子の出力増加、信頼性の向上、システムの小型化、冷却機構の簡素化を実現し、CO2排出削減に大きく貢献します。